晶体管老化筛选设备计量参数的校准

doi:10.12060/j.issn.1000-7202.2014.02.12

宇航计测技术

晶体管老化筛选设备计量参数的校准

薛燕¹；刘玉波¹；东方¹；李贵森¹；李绍华¹

1、黑龙江华安精益计量技术研究院有限公司，哈尔滨 150046

出版日期:2014-04-15 发布日期:2014-04-15
作者简介:薛燕（1981-），女，工程师，主要研究方向：电学计量。

Calibration of the Metering Parameter for Transistors Burn-in Screen Machine

XUE Yan¹；LIU Yu-bo¹；DONG Fang¹；LI Gui-sen¹；LI Shao-hua¹

1、Heilongjiang Huaan Jingyi Metrology Technology Institute Co.,Ltd,Haerbin 150046

Online:2014-04-15 Published:2014-04-15

摘要/Abstract

摘要： 晶体管老化筛选设备是对大功率、小功率三极管（NPN、PNP型）、二极管等电子元器件进行老化筛选的计量装置。通过对被筛选的晶体管施加电压、电流等影响量来对晶体管的可靠性进行检查。介绍了老化筛选装置输出的基极电压、集电极电压、集电极电流等参数的校准方法以及对同一个参数采用不同校准方法的比较研究。

关键词: 晶体管, 老化, 筛选, 设备, 校准

Abstract: The transistors burn-in screen machine is the colibration equipment in triode of superpower and low power(both NPN and PNP) ,diodes and so on. The influence quantities are putted such as voltage, current, on transistors and integrated circuit to check the reliability of transistor. The calibration methods of base voltage, collector voltage, collector current and the differences between the methods in one parameter are discussed.

Key words: Transistor, Aging, Screening, Equipment, Calibration

薛燕；刘玉波；东方；李贵森；李绍华. 晶体管老化筛选设备计量参数的校准[J]. 宇航计测技术, doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2014.02.12.

XUE Yan；LIU Yu-bo；DONG Fang；LI Gui-sen；LI Shao-hua. Calibration of the Metering Parameter for Transistors Burn-in Screen Machine[J]. JOURNAL OF ASTRONAUTIC METROLOGY AND MEASUREMENT, doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2014.02.12.

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晶体管老化筛选设备计量参数的校准

Calibration of the Metering Parameter for Transistors Burn-in Screen Machine

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