宇航计测技术 ›› 2017, Vol. 37 ›› Issue (6): 28-34.doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2017.06.06
马彤彤1;轩亚兵1;王伟峰2;黄桂平1
MA Tong-tong1;XUAN Ya-bing1;WANG Wei-feng2;HUANG Gui-ping1
摘要: 介绍了影响双相机系统精度的多种几何因素并进行实验测试,进一步对双相机工业摄影系统的精度进行优化;采用高精度单相机系统的测量值作为精度评定的参考值,改变双相机测量系统不同的几何结构,如摄影距离,摄影基线,以及基线偏离检定场中轴线位置等。并对单、双相机系统测量的数据结果进行比对测试。实验结果表明基线长度与摄影距离的改变对点位精度影响最大,前后对比最大值可达0.3mm,改变摄影光轴与基线的夹角对精度影响较小,仅0.04mm。