宇航计测技术 ›› 2016, Vol. 36 ›› Issue (6): 29-34.doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2016.36.6.29
杨华晖1,2;冯伟利3;刘福2;
YANG Hua-hui1,2;FENG Wei-li3;LIU Fu2
摘要: 根据计量光栅莫尔条纹信号高精度细分的要求,提出了一种基于ADC幅值采样和相位解算的光栅细分方法,并利用Simulink搭建仿真模型,使两路正余弦信号通过正余切变换、幅值采样、固定相位步长细分等处理后输出为两路正交编码信号。仿真实验表明,该细分方法在输入理想信号情况下细分倍数主要与ADC采样精度有关,提高ADC采样位数可有效提高最大细分倍数。通过在两路时变sin/cos信号中添加幅值不等、相位不正交以及高次谐波分量等干扰噪声的仿真实验,验证了该方法的细分精度与信号质量有关。