宇航计测技术 ›› 2013, Vol. 33 ›› Issue (3): 34-38.doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2013.03.07
陈亮1;黄仰博1;田丰1;吴舜晓1;欧钢1
CHEN Liang1;HUANG Yang-bo1;TIAN Feng1;WU Shun-xiao1;OU Gang1
摘要: 当前的温补晶振测试系统受频率测量容量制约,测试效率不高,本文提出了一种基于直接测频法的并行频率测量方法,并采用该方法实现了并行TCXO测试系统。该测试系统已经可以对至少100颗TCXO同时进行测试,且测试容量还可以进一步增加。该测试系统的频率相对测量误差低于±4×10-9,完全符合目前TCXO的设计和生产精度要求。应用该并行测试系统可显著提高TCXO测试与生产的效率。