FPGA可配置资源测试方法研究

doi:10.12060/j.issn.1000-7202.2012.01.15

宇航计测技术

FPGA可配置资源测试方法研究

刘倩¹;吴丹¹;章婷¹;沈森祖¹

1、武汉数字工程研究所，武汉 430074

出版日期:2012-02-15 发布日期:2012-02-15
作者简介:刘倩（1983-），女，工程师，主要研究方向：微电子计量与测试。

Research on Test Technology for Virtex-E Series FPGAs

LIU Qian¹;WU Dan¹;ZHANG Ting¹;SHEN Sen-zu¹

1、Wuhan Digital Engineering Institute, Wuhan 430074

Online:2012-02-15 Published:2012-02-15

摘要/Abstract

摘要： FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一，随着FPGA的迅速发展，对FPGA的测试得到了广泛重视和研究，其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础，研究了基于93000集成电路测试系统的FPGA器件测试技术，为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。

关键词: FPGA测试, 可测试性设计, 配置, 测试向量

Abstract: FPGA is a very important device which is being widely used in IC design and many other areas. With the rapid development of FPGAs, test technology for FPGAs is becoming more and more complicated. This paper takes XILINX Virtex XCV300E for example, studies the test technology for FPGA based on 93000 test system.

Key words: FPGA test, Testability design, Configuration, Test pattern

刘倩;吴丹;章婷;沈森祖. FPGA可配置资源测试方法研究[J]. 宇航计测技术, doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2012.01.15.

LIU Qian;WU Dan;ZHANG Ting;SHEN Sen-zu. Research on Test Technology for Virtex-E Series FPGAs[J]. JOURNAL OF ASTRONAUTIC METROLOGY AND MEASUREMENT, doi: 10.12060/j.issn.1000-7202.2012.01.15.

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FPGA可配置资源测试方法研究

Research on Test Technology for Virtex-E Series FPGAs

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